影响全膜电容器绝缘结构浸渍的一些参数

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影响全膜电容器绝缘结构浸渍的一些参数

更新时间：2024-09-14

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- 影响全膜电容器绝缘结构浸渍的一些参数
- POWER CAPACITOR & REACTIVE POWER COMPENSATION Issue 3, Pages: 46-48(1993)
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- Published：1993，
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[1]N.BERGER.影响全膜电容器绝缘结构浸渍的一些参数[J].电力电容器,1993,{4}(03):46-48.

影响全膜电容器绝缘结构浸渍的一些参数. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 1993, (3): 46-48.
[1]N.BERGER.影响全膜电容器绝缘结构浸渍的一些参数[J].电力电容器,1993,{4}(03):46-48. DOI：

影响全膜电容器绝缘结构浸渍的一些参数. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 1993, (3): 46-48. DOI：

摘要

<正> 这里介绍的以小型模型电容器的电容量变化作为一种研究手段

来研究影响全膜电容器浸渍的一些参数。 1 材料电容器由五个并联的扁平元件组成。每个元件有下列特征: ——二层膜（宽度=75mm） ——重量厚度=13.6μm ——薄膜空间因素空隙率～9.5％——铝箔未折边

不外突(宽度=

Abstract

<正> 这里介绍的以小型模型电容器的电容量变化作为一种研究手段

来研究影响全膜电容器浸渍的一些参数。 1 材料电容器由五个并联的扁平元件组成。每个元件有下列特征: ——二层膜（宽度=75mm） ——重量厚度=13.6μm ——薄膜空间因素空隙率～9.5％——铝箔未折边

不外突(宽度=

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