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西容室
Published:1981,
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[1]陈温良.局部放电测试回路参数对测试的影响[J].电力电容器,1981,{4}(03):13-17.
局部放电测试回路参数对测试的影响. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 1981, (3): 13-17.
[1]陈温良.局部放电测试回路参数对测试的影响[J].电力电容器,1981,{4}(03):13-17. DOI:
局部放电测试回路参数对测试的影响. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 1981, (3): 13-17. DOI:
<正> 电容器介质局部放电测试技术在我厂己有多年的实践。这几年有不少单位也着手搞局部放电测试工作。有关文献资料很多
但是对于测试技术基本原理的分析论证却十分匮乏。近几年我们对测试技术进行了一些摸索和探讨。在参考资料[2]中我们己对测试回路信号响应的基本关系进行了数学推导。本文则结合实际线路参数进一步分析回路参数对测试的影响。
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