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高压并联电容器壳体耐爆能力试验研究的新进展及相关问题的探讨
试验研究 | 更新时间:2024-09-14
    • 高压并联电容器壳体耐爆能力试验研究的新进展及相关问题的探讨

    • Experimental Investigation on Case Rupture Test of HV Shunt Capacitors and Discussion on Some Relevant Problems

    • 电力电容器与无功补偿   2009年30卷第1期 页码:34-39
    • 中图分类号: TM53
    • 纸质出版日期:2009,

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  • [1]陈温良,郭晓莉,董燕,贺满潮,吴俊丽,汪骥.高压并联电容器壳体耐爆能力试验研究的新进展及相关问题的探讨[J].电力电容器与无功补偿,2009,30(01):34-39+43. DOI:

    CHEN WEN-LIANG, GUO XIAO-LI, DONG YAN, et al. Experimental Investigation on Case Rupture Test of HV Shunt Capacitors and Discussion on Some Relevant Problems. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2009, 30(1): 34-39. DOI:

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