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极对壳绝缘局部放电试验对电容器绝缘老化的评定作用
更新时间:2024-09-14
    • 极对壳绝缘局部放电试验对电容器绝缘老化的评定作用

    • Predication of the Insulation Ageing for Power Capacitor According to the Pole-to-case Insulation Partial Discharge Test

    • 电力电容器与无功补偿   2005年第1期 页码:35-38
    • 中图分类号: TM531.4
    • 纸质出版日期:2005,

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  • [1]倪学锋,谢诚.极对壳绝缘局部放电试验对电容器绝缘老化的评定作用[J].电力电容器,2005,{4}(01):35-38. DOI:

    NI XUE-FENG~1, XIE CHENG~2. Predication of the Insulation Ageing for Power Capacitor According to the Pole-to-case Insulation Partial Discharge Test. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2005, (1): 35-38. DOI:

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相关作者

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相关机构

西安高压电器研究院股份有限公司
中国电力科学研究院有限公司
无锡赛晶电力电容器有限公司
  桂林电力电容器总厂 广西桂林541004  
  桂林电力电容器总厂  
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