温度对集合式全膜并联电容器使用寿命影响的研究

黄玲; 黄有祥

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温度对集合式全膜并联电容器使用寿命影响的研究

更新时间：2024-09-14

- 温度对集合式全膜并联电容器使用寿命影响的研究
- Research for Influence of Temperature on the Operation Life of Assembled All-film Shunt Capacitor
- 电力电容器与无功补偿 2006年第2期页码：35-39
- 作者机构：
  
  1. 赣西供电公司电力勘察设计所
  2. 桂林电力电容器总厂
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： TM532
- 纸质出版日期：2006，
- 稿件说明：
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[1]黄玲,黄有祥.温度对集合式全膜并联电容器使用寿命影响的研究[J].电力电容器,2006,{4}(02):35-39+45.

HUANG LING~1, HUANG YOU-XIANG~2. Research for Influence of Temperature on the Operation Life of Assembled All-film Shunt Capacitor. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2006, (2): 35-39.
[1]黄玲,黄有祥.温度对集合式全膜并联电容器使用寿命影响的研究[J].电力电容器,2006,{4}(02):35-39+45. DOI：

HUANG LING~1, HUANG YOU-XIANG~2. Research for Influence of Temperature on the Operation Life of Assembled All-film Shunt Capacitor. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2006, (2): 35-39. DOI：

摘要

通过对集合式全膜并联电容器使用情况的调查研究

认为温度对电容器的使用寿命有举足轻重的作用

并提出有效的改进措施。良好的设计和工艺制造可提高电容器的可靠性和使用寿命

满足使用要求。

Abstract

Through investigating and studying on the operation of assembled all-film shunt capacitor

it can be considered that temperature plays a holding the balance role on operation life.And effective improvement measures are put forward.Fine design and technological manufacturing can improve reliability and operation life to meet operation requirements.

关键词

集合式并联电容器介质温度耐久性试验使用寿命

Keywords

references

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