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全膜电容器运行故障率偏高的原因分析
使用与维护 | 更新时间:2024-09-14
    • 全膜电容器运行故障率偏高的原因分析

    • Causes Analysis of Higher Operation Fault Rate of Film Capacitor

    • 电力电容器与无功补偿   2007年第2期 页码:46-49
    • 中图分类号: TM531.4
    • 纸质出版日期:2007,

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  • [1]刘瑞云,郑德龙,倪学锋.全膜电容器运行故障率偏高的原因分析[J].电力电容器,2007,{4}(02):46-49. DOI:

    LIU RUI-YUN1, ZHENG DE-LONG1, NI XUE-FENG2. Causes Analysis of Higher Operation Fault Rate of Film Capacitor. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2007, (2): 46-49. DOI:

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