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串联电容器型式试验问题研究
更新时间:2024-09-14
    • 串联电容器型式试验问题研究

    • Optimization of Type Tests Circuit about Series Capacitor

    • 电力电容器与无功补偿   2004年第3期 页码:15-17
    • 中图分类号: TM53
    • 纸质出版日期:2004,

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  • [1]左强林,毛承雄,李维波.串联电容器型式试验问题研究[J].电力电容器,2004,{4}(03):15-17+42. DOI:

    ZUO QIANG-LIN, MAO CHENG-XIONG, LI WEI-BO. Optimization of Type Tests Circuit about Series Capacitor. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2004, (3): 15-17. DOI:

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