您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
自愈式低电压并联电容器破坏试验条件验证
更新时间:2024-09-14
    • 自愈式低电压并联电容器破坏试验条件验证

    • Condition Verification on Destruction test of Self-healingLow-voltage Shunt Capacitor

    • 电力电容器与无功补偿   2004年第4期 页码:34-36
    • 中图分类号: TM533.3
    • 纸质出版日期:2004,

    移动端阅览

  • [1]张爱莉.自愈式低电压并联电容器破坏试验条件验证[J].电力电容器,2004,{4}(04):34-36. DOI:

    ZHANG AI-LI. Condition Verification on Destruction test of Self-healingLow-voltage Shunt Capacitor. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2004, (4): 34-36. DOI:

  •  
  •  

0

浏览量

48

下载量

0

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

直流支撑电容器交直流叠加试验回路搭建及参数选取探讨

相关作者

邓光昭
黄葵
王文宝

相关机构

嘉善赛晶电容器有限公司
0