全膜电容器热稳定试验研究

严玉婷; 倪学锋

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全膜电容器热稳定试验研究

更新时间：2024-09-14

- 全膜电容器热稳定试验研究
- Research on Thermal Stability Test of All-film Power Capacitor
- 电力电容器与无功补偿 2003年第3期页码：34-37
- 作者机构：
  
  1.   武汉大学99575班
  2.   武汉高压研究所武汉430072
  3.   武汉430074
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： TM533
- 纸质出版日期：2003，
- 稿件说明：
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[1]严玉婷,倪学锋.全膜电容器热稳定试验研究[J].电力电容器,2003,{4}(03):34-37.

YAN YUTING1, NI XUEFENG2. Research on Thermal Stability Test of All-film Power Capacitor. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2003, (3): 34-37.
[1]严玉婷,倪学锋.全膜电容器热稳定试验研究[J].电力电容器,2003,{4}(03):34-37. DOI：

YAN YUTING1, NI XUEFENG2. Research on Thermal Stability Test of All-film Power Capacitor. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2003, (3): 34-37. DOI：

摘要

全膜电容器由于绝缘性能优良

比特性远优于其它介质电容器。但正因为如此

其散热面积也远小于其它介质电容器。因此

其热的稳定特性并不一定就优于其它电容器。本文通过对电容器比例单元热稳定性能的试验研究

确定了内部最热点与外壳最热点的关系

为更好地做好电容器热稳定性能试验提供了参考依据。

Abstract

The allfilm capacitor has good insulation characteristics

and its ratio of output to weight is much better than capacitors using other dielectrics. However

for this reason

heat dissipation dimension is much smaller than other capacitors. Therefore

Its thermal stability may not be better than other capacitors. Through experimental research on a small size capacitor unit model

we have found the relation between the inner hottest point and the hottest point of the metal case. It may provide some references to the capacitor thermal stability test.

关键词

电容器温升介质损耗

Keywords

capacitortemperature riseDielectric losses

references

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