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中国科学院空间中心
纸质出版日期:1985,
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[1]酆惠芬.脉冲贮能电容器损坏机理的探讨[J].电力电容器,1985,{4}(03):7-9.
脉冲贮能电容器损坏机理的探讨. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 1985, (3): 7-9.
[1]酆惠芬.脉冲贮能电容器损坏机理的探讨[J].电力电容器,1985,{4}(03):7-9. DOI:
脉冲贮能电容器损坏机理的探讨. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 1985, (3): 7-9. DOI:
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正> 随着科研工作的发展
对脉冲贮能电容器的寿命要求越来越高。例如
用于卫星控制的脉冲等离子体推力器上所用的贮能电容器要求寿命为2×10
7
次。而工业上常用的脉冲贮能电容器
出厂时保证寿命为1×10
4
次。为了解决电容器的长寿命问题
首先必
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CSCD
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