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西容室
纸质出版日期:1981,
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[1]申秀珠.IEC出版物282—3第一版1976年 高压熔断器──第三部分:试验限流熔断器、喷逐式及类似熔断器用短路功率因数的测定[J].电力电容器,1981,{4}(03):51-52.
IEC出版物282—3第一版1976年 高压熔断器──第三部分:试验限流熔断器、喷逐式及类似熔断器用短路功率因数的测定. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 1981, (3): 51-52.
[1]申秀珠.IEC出版物282—3第一版1976年 高压熔断器──第三部分:试验限流熔断器、喷逐式及类似熔断器用短路功率因数的测定[J].电力电容器,1981,{4}(03):51-52. DOI:
IEC出版物282—3第一版1976年 高压熔断器──第三部分:试验限流熔断器、喷逐式及类似熔断器用短路功率因数的测定. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 1981, (3): 51-52. DOI:
<正> 1.概述由于电阻随频率和电流而变化、电感随时间和电流而变化
故没有能够精确测定短路功率因数的方法。本规范提出用以下三种方法中的任一种较合适的方法可以足够准确地测定试验回路每相的功率因数。方法一建议用来测量高于0.3的功率因数(例如限流熔断器的第3种试验;喷逐式熔断器的第4和第
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