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引起10kV高压并联电容器组损毁原因分析
运行维护与故障分析 | 更新时间:2024-09-14
    • 引起10kV高压并联电容器组损毁原因分析

    • Damage Cause Analysis on 10kV High Voltage Shunt Capacitor Bank

    • 电力电容器与无功补偿   2010年31卷第6期 页码:53-56
    • DOI:10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2010.06.011    

      中图分类号: TM531.4
    • 纸质出版日期:2010,

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  • [1]苑舜,王新伟,王天施.引起10kV高压并联电容器组损毁原因分析[J].电力电容器与无功补偿,2010,31(06):53-56. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2010.06.011.

    YUAN SHUN1, WANG XIN-WEI2, WANG TIAN-SHI3. Damage Cause Analysis on 10kV High Voltage Shunt Capacitor Bank. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2010, 31(6): 53-56. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2010.06.011.

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