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并联电容器极壳之间交流耐压试验噪声问题探讨
试验与研究 | 更新时间:2024-09-14
    • 并联电容器极壳之间交流耐压试验噪声问题探讨

    • Discussion on Noise in AC Withstand Voltage Test between Terminal and Carapace of Shunt Power Capacitor

    • 电力电容器与无功补偿   2011年32卷第2期 页码:47-49
    • DOI:10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2011.02.012    

      中图分类号: TM531.4
    • 纸质出版日期:2011,

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  • [1]赵学伟,朱大铭.并联电容器极壳之间交流耐压试验噪声问题探讨[J].电力电容器与无功补偿,2011,32(02):47-49+62. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2011.02.012.

    ZHAO XUE-WEI1, ZHU DA-MING2. Discussion on Noise in AC Withstand Voltage Test between Terminal and Carapace of Shunt Power Capacitor. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2011, 32(2): 47-49. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2011.02.012.

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