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高压并联电容器箱壳爆裂及其对策
验与研究 | 更新时间:2024-09-14
    • 高压并联电容器箱壳爆裂及其对策

    • Case Rupture of the High Voltage Shunt Capacitors and Its Countermeasures

    • 电力电容器与无功补偿   2011年32卷第3期 页码:45-49
    • DOI:10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2011.03.012    

      中图分类号: TM53
    • 纸质出版日期:2011,

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  • [1]严焕玲,沈文琪,蔡俊.高压并联电容器箱壳爆裂及其对策[J].电力电容器与无功补偿,2011,32(03):45-49+65. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2011.03.012.

    YAN HUAN-LING1, SHEN WEN-QI2, CAI JUN1. Case Rupture of the High Voltage Shunt Capacitors and Its Countermeasures. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2011, 32(3): 45-49. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2011.03.012.

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