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高压内熔丝全膜并联电容器耐爆试验的分析研究
试验与研究 | 更新时间:2024-09-14
    • 高压内熔丝全膜并联电容器耐爆试验的分析研究

    • Analysis of Bursting Test of the High Voltage Internal Fuse All-film Shunt Capacitors

    • 电力电容器与无功补偿   2011年32卷第4期 页码:42-47
    • DOI:10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2011.04.010    

      中图分类号: TM531.4
    • 纸质出版日期:2011,

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  • [1]穆淑云,董燕,陈温良.高压内熔丝全膜并联电容器耐爆试验的分析研究[J].电力电容器与无功补偿,2011,32(04):42-47. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2011.04.010.

    MU SHU-YUN, DONG YAN, CHEN WEN-LIANG. Analysis of Bursting Test of the High Voltage Internal Fuse All-film Shunt Capacitors. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2011, 32(4): 42-47. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2011.04.010.

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