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串联电容器介质耐电强度试验研究
试验与研究 | 更新时间:2024-09-14
    • 串联电容器介质耐电强度试验研究

    • Study on Dielectric Strength Test of Series Capacitor

    • 电力电容器与无功补偿   2014年35卷第2期 页码:62-68
    • DOI:10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2014.02.012    

      中图分类号: TM53
    • 纸质出版日期:2014,

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  • [1]高和平,董海健,李媛,赵霞.串联电容器介质耐电强度试验研究[J].电力电容器与无功补偿,2014,35(02):62-68. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2014.02.012.

    GAO HEPING, DONG HAIJIAN, LI YUAN, et al. Study on Dielectric Strength Test of Series Capacitor. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2014, 35(2): 62-68. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2014.02.012.

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