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由测量回路接触不良引起介损偏大的分析
运行维护与故障分析 | 更新时间:2024-09-14
    • 由测量回路接触不良引起介损偏大的分析

    • Analysis on Larger Dielectric Loss Caused by Poor Contact in Measuring Circuit

    • 电力电容器与无功补偿   2014年35卷第2期 页码:78-81
    • DOI:10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2014.02.015    

      中图分类号: TM216.5
    • 纸质出版日期:2014,

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  • [1]程扬军,黄堃,庄伟.由测量回路接触不良引起介损偏大的分析[J].电力电容器与无功补偿,2014,35(02):78-81. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2014.02.015.

    CHENG YANGJUN, HUANG KUN, ZHUANG WEI. Analysis on Larger Dielectric Loss Caused by Poor Contact in Measuring Circuit. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2014, 35(2): 78-81. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2014.02.015.

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