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容性电路微间隙下的接触不良试验研究
电力电容器 | 更新时间:2024-09-14
    • 容性电路微间隙下的接触不良试验研究

    • Study on Poor Contact Test of Capacitive Circuit at Micro-gap

    • 电力电容器与无功补偿   2017年38卷第1期 页码:76-79
    • DOI:10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2017.01.014    

      中图分类号: TM53;TM75
    • 纸质出版日期:2017,

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  • [1]杨溢,刘强,张琦,梁清雲.容性电路微间隙下的接触不良试验研究[J].电力电容器与无功补偿,2017,38(01):76-79. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2017.01.014.

    YANG YI, LIU QIANG, ZHANG QI, et al. Study on Poor Contact Test of Capacitive Circuit at Micro-gap. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2017, 38(1): 76-79. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2017.01.014.

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