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金属化膜电容器可靠性研究进展
电力电子电容器 | 更新时间:2024-09-14
    • 金属化膜电容器可靠性研究进展

    • Study Development on the Reliability of Metallized Film Capacitor

    • 电力电容器与无功补偿   2019年40卷第1期 页码:53-58
    • DOI:10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2019.01.011    

      中图分类号: TM53
    • 纸质出版日期:2019,

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  • [1]刘泳斌,曹均正,黄金魁,张一恺,姚睿丰,王妍,高景晖.金属化膜电容器可靠性研究进展[J].电力电容器与无功补偿,2019,40(01):53-58. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2019.01.011.

    LIU YONGBIN, CAO JUNZHENG, HUANG JINKUI, et al. Study Development on the Reliability of Metallized Film Capacitor. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2019, 40(1): 53-58. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2019.01.011.

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相关作者

刘泳斌
张阳
高景晖
姚睿丰
钟力生
张一恺
唐超
张社红

相关机构

西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室
东南大学电气工程学院
国网上海市经济技术研究院
华北电力大学高电压与电磁兼容实验室
华北电力大学高压与电磁兼容重点实验室
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