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金属化薄膜电容器焊接工艺对容量衰减的影响分析
电容器 | 更新时间:2024-09-14
    • 金属化薄膜电容器焊接工艺对容量衰减的影响分析

    • Analysis on Influence of Welding Process of Metallized Film Capacitor on the Capacitance Attenuation

    • 电力电容器与无功补偿   2021年42卷第5期 页码:83-86
    • DOI:10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2021.05.014    

      中图分类号: TG44;TM53
    • 纸质出版日期:2021,

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  • 张科伟. 金属化薄膜电容器焊接工艺对容量衰减的影响分析[J]. 电力电容器与无功补偿, 2021,42(5):83-86. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2021.05.014.

    ZHANG KEWEI. Analysis on Influence of Welding Process of Metallized Film Capacitor on the Capacitance Attenuation. [J]. Power capacitor & reactive power compensation, 2021, 42(5): 83-86. DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2021.05.014.

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